eoptics頤光科技E-VE光譜橢偏儀

SE-VE光譜橢偏儀
SE-VE是一款高性價(jià)比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設(shè)計(jì)，操作簡便，一鍵快速測量和向?qū)Ы换ナ饺藱C(jī)界面，具有豐富的材料數(shù)據(jù)庫和算法模型庫、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析能力。

一、概述

      SE-VE 是一款超高性價(jià)比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。

■ 超高性價(jià)比光學(xué)橢偏測量解決方案；

■ 緊湊集成化設(shè)計(jì)，極致用戶操作體驗(yàn)；

■ 一鍵快速測量分析，人機(jī)交互設(shè)計(jì)，使用便捷；

■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；

■ 高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置，實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；

■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料。

三、產(chǎn)品應(yīng)用

SE-VE光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析。

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