一、概述

       RT-V 系列反射透射測量儀，采用進(jìn)口氘鹵二合一光源，結(jié)合高性能分光光譜儀，可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜，并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo)，以及薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息。

 ■  高性價(jià)比穿透率、反射率測量解決方案

 ■  色坐標(biāo)計(jì)算和薄膜特征解析

 ■  模塊化定制，支持在線集成應(yīng)用

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 采用高性能進(jìn)口氘鹵二合一光源，光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍；

■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測，基于薄膜層上下界面反射光干涉原理，輕松解析單層至多層薄膜特征；

三、產(chǎn)品應(yīng)用

       RT系列反射透射測量儀，可實(shí)現(xiàn)各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準(zhǔn)測量，并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo)、薄膜樣品厚度及光學(xué)常數(shù)。廣泛應(yīng)用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。